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2018.06.06 VDI 专题会议“功能表面的光学测量”

欢迎了解我们在法兰肯塔尔举行的第 6 届 VDI 专题会议上的报告,内容围绕如何利用散射光传感器通过表面参数 Aq 来表征摩擦功能。更多信息及其余会议日程请见: https://bit.ly/2KZfSPY

../assets/optosurf/wp-content/uploads/2018/05/VDI-Wissensforum.png 110 130 Daniel Schnabel ../assets/optosurf/wp-content/uploads/2018/12/Logo_2000x375.png Daniel Schnabel2018-06-06 00:00:142019-02-27 09:50:202018.06.06 VDI 专题会议“功能表面的光学测量”

新闻

  • 可溯源粗糙度标准2020年3月2日 - 8:36
  • 参加 2020 Control 展会 - 2020.05.05 - 2020.05.082020年2月11日 - 9:23
  • 经认证的波纹标准2019年6月6日 - 14:55

新闻发布

应用视频

  • 可溯源粗糙度标准2020年3月2日 - 8:36

严苛生产环境中的光学表面测量技术

质量控制 – 过程控制 – 降低成本

应用领域

  • 汽车工业
  • 机械制造
  • 表面处理
  • 半导体技术

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